Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 5, страницы 702–705
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.05.47567.25 (Mi phts5523) 		 
XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.

Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок

О. Н. Урюпин, А. А. Шабалдин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
PDF полного текста (348 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.05.47567.25
Аннотация: Создана экспериментальная установка для измерения термоэлектрических свойств полупроводниковых нанопроволок диаметром до 5 нм в диэлектрических матрицах. Установка позволяет измерять электросопротивление и термоэдс наноструктурированных образцов в диапазоне температур 77–400 K.
Поступила в редакцию: 20.12.2018
Исправленный вариант: 24.12.2018
Принята в печать: 28.12.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 5, Pages 695–698
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619050270
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: О. Н. Урюпин, А. А. Шабалдин, “Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок”, Физика и техника полупроводников, 53:5 (2019), 702–705; Semiconductors, 53:5 (2019), 695–698
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{UrySha19}
\by О.~Н.~Урюпин, А.~А.~Шабалдин
\paper Установка по измерению термоэлектрических свойств ультратонких проволок
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 5
\pages 702--705
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5523}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.05.47567.25}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37644661}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 5
\pages 695--698
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619050270}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5523
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i5/p702
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:44
    PDF полного текста:19
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024