Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 5, страницы 608–611
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.05.47547.05
(Mi phts5503)
 

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.

О зонной структуре Bi$_{2}$Te$_{3}$

С. А. Немовabc, Ю. В. Улашкевичd, А. А. Рулимовa, А. Е. Демченкоa, А. А. Аллаххахa, И. В. Свешниковc, М. Б. Джафаровe

a Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
c Забайкальский государственный университет, г. Чита
d Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
e Азербайджанский технический университет, Гянджа, Азербайджан
Аннотация: На кристаллах $p$-Bi$_{2}$Te$_{3}$, выращенных методом Чохральского, измерены температурные зависимости электропроводности, коэффициентов Холла, термоэдс и поперечного эффекта Нернста–Эттингсгаузена в интервале температур 77–450 K и спектр пропускания в диапазоне 400–5250 см$^{-1}$ при комнатной температуре. Показано, что для объяснения температурных зависимостей параметра рассеяния и отношения термоэдс к температуре необходимо учитывать сложное строение валентной зоны и вклад тяжелых дырок в явления переноса. Сделанные оценки зонных параметров в рамках двухзонной модели дают значения эффективной массы дырок порядка массы свободного электрона и энергетического зазора между неэквивалентными экстремумами порядка нескольких сотых эВ. На спектре поглощения, полученном из пропускания, в диапазоне частот $\nu\ge$ 1000 см$^{-1}$ наблюдается резкий подъем поглощения, обусловленный непрямыми межзонными переходами с запрещенной зоной $E_{g}\approx$ 0.14 эВ. Спектр поглощения, рассчитанный из данных по отражению с помощью соотношений Крамерса–Кронига, находится в согласии с измеренным.
Поступила в редакцию: 20.12.2018
Исправленный вариант: 24.12.2018
Принята в печать: 28.12.2018
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 5, Pages 603–606
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378261905018X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. А. Немов, Ю. В. Улашкевич, А. А. Рулимов, А. Е. Демченко, А. А. Аллаххах, И. В. Свешников, М. Б. Джафаров, “О зонной структуре Bi$_{2}$Te$_{3}$”, Физика и техника полупроводников, 53:5 (2019), 608–611; Semiconductors, 53:5 (2019), 603–606
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NemUlaRul19}
\by С.~А.~Немов, Ю.~В.~Улашкевич, А.~А.~Рулимов, А.~Е.~Демченко, А.~А.~Аллаххах, И.~В.~Свешников, М.~Б.~Джафаров
\paper О зонной структуре Bi$_{2}$Te$_{3}$
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 5
\pages 608--611
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5503}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.05.47547.05}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=37644641}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 5
\pages 603--606
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378261905018X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5503
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i5/p608
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:59
    PDF полного текста:16
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024