Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 6, страницы 731–735
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.06.47717.26
(Mi phts5471)
 

XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.

Влияние неидеальности геометрической формы образца на неопределенность измерений теплопроводности методом лазерной вспышки

А. В. Асачa, Г. Н. Исаченкоab, А. В. Новотельноваa, В. Е. Фоминa, К. Л. Самусевичa, И. Л. Тхоржевскийa

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Проведено исследование влияния геометрической формы образцов на неопределенность измерений коэффициента теплопроводности материалов методом лазерной вспышки. Методом математического моделирования в программной среде Comsol Multiphysics создана модель, имитирующая процесс измерения методом лазерной вспышки коэффициента теплопроводности образцов, выполненных из графита, Mg$_{2}$Si$_{0.4}$Sn$_{0.6}$ и теллурида висмута. Исследованы образцы цилиндрической формы с плоскопараллельными сторонами и образцы в виде усеченного цилиндра, а также образцы в виде параллелепипеда с квадратным основанием. Показано, что для образцов с плоскопараллельными сторонами и размером до 12.7 мм неопределенность измерений не превышает 2%. Для образцов в форме усеченного цилиндра диаметром 3 мм и при угле скоса $\varphi$=1.5$^\circ$ неопределенность измерения не превышает 3%. С увеличением диаметра образца и угла $\varphi$ неопределенность измерений существенно возрастает.
Поступила в редакцию: 07.02.2019
Исправленный вариант: 10.02.2019
Принята в печать: 14.02.2019
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 6, Pages 723–726
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619060022
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Асач, Г. Н. Исаченко, А. В. Новотельнова, В. Е. Фомин, К. Л. Самусевич, И. Л. Тхоржевский, “Влияние неидеальности геометрической формы образца на неопределенность измерений теплопроводности методом лазерной вспышки”, Физика и техника полупроводников, 53:6 (2019), 731–735; Semiconductors, 53:6 (2019), 723–726
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{AsaIsaNov19}
\by А.~В.~Асач, Г.~Н.~Исаченко, А.~В.~Новотельнова, В.~Е.~Фомин, К.~Л.~Самусевич, И.~Л.~Тхоржевский
\paper Влияние неидеальности геометрической формы образца на неопределенность измерений теплопроводности методом лазерной вспышки
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 6
\pages 731--735
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5471}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.06.47717.26}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=39133278}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 6
\pages 723--726
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619060022}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5471
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i6/p731
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:47
    PDF полного текста:27
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024