|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Электронные свойства полупроводников
Влияние рентгеновского излучения на оптические свойства фоторефрактивных кристаллов силиката висмута
В. Т. Аванесян, И. В. Писковатскова, В. М. Стожаров Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Представлены результаты исследования спектров оптического поглощения в монокристаллах силиката висмута Bi$_{12}$SiO$_{20}$. Определены ширина запрещенной зоны и характеристическая энергия Урбаха. Установлено влияние предварительного рентгеновского облучения на поведение экспериментальных спектральных зависимостей и значения характеристических параметров, обусловленное дефектной структурой силиката висмута.
Ключевые слова:
силикат висмута, силленит, спектральная зависимость, оптическое поглощение, рентгеновское излучение.
Поступила в редакцию: 26.03.2019 Исправленный вариант: 05.04.2019 Принята в печать: 08.04.2019
Образец цитирования:
В. Т. Аванесян, И. В. Писковатскова, В. М. Стожаров, “Влияние рентгеновского излучения на оптические свойства фоторефрактивных кристаллов силиката висмута”, Физика и техника полупроводников, 53:8 (2019), 1043–1046; Semiconductors, 53:8 (2019), 1024–1027
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5426 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i8/p1043
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 57 | PDF полного текста: | 45 |
|