Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 11, страницы 1455–1458
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.11.48439.9145
(Mi phts5348)
 

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)

Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?

А. И. Титов, К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Стручков

Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Аннотация: Исследовано накопление структурных повреждений в GaN при облучении ускоренными ионами F и Ne с энергиями 1.3 и 3.2 кэВ/а.е.м. Показано, что в рамках рассматриваемых доз химические эффекты при внедрении ионов фтора не оказывают существенного влияния на образование устойчивых структурных повреждений как в объеме, так и на поверхности GaN.
Ключевые слова: GaN, ионное облучение, инженерия дефектов, химические эффекты.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-08-01213
Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, грант РФФИ № 18-08-01213.
Поступила в редакцию: 22.04.2019
Исправленный вариант: 28.04.2019
Принята в печать: 28.04.2019
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 11, Pages 1415–1418
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619110204
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. И. Титов, К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Стручков, “Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?”, Физика и техника полупроводников, 53:11 (2019), 1455–1458; Semiconductors, 53:11 (2019), 1415–1418
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{TitKarKar19}
\by А.~И.~Титов, К.~В.~Карабешкин, П.~А.~Карасев, А.~И.~Стручков
\paper Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 11
\pages 1455--1458
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5348}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.11.48439.9145}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41300642}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 11
\pages 1415--1418
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619110204}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5348
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i11/p1455
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024