|
Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)
Неэлектронные свойства полупроводников (атомная структура, диффузия)
Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?
А. И. Титов, К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Стручков Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
Аннотация:
Исследовано накопление структурных повреждений в GaN при облучении ускоренными ионами F и Ne с энергиями 1.3 и 3.2 кэВ/а.е.м. Показано, что в рамках рассматриваемых доз химические эффекты при внедрении ионов фтора не оказывают существенного влияния на образование устойчивых структурных повреждений как в объеме, так и на поверхности GaN.
Ключевые слова:
GaN, ионное облучение, инженерия дефектов, химические эффекты.
Поступила в редакцию: 22.04.2019 Исправленный вариант: 28.04.2019 Принята в печать: 28.04.2019
Образец цитирования:
А. И. Титов, К. В. Карабешкин, П. А. Карасев, А. И. Стручков, “Влияют ли химические эффекты на накопление структурных нарушений при имплантации в GaN ионов фтора?”, Физика и техника полупроводников, 53:11 (2019), 1455–1458; Semiconductors, 53:11 (2019), 1415–1418
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5348 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i11/p1455
|
|