Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 12, страницы 1733–1739
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2019.12.48636.9239
(Mi phts5344)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Твердые растворы In$_{x}$Al$_{1-x}$N: проблемы стабильности состава

В. Н. Брудный, М. Д. Вилисова, Л. Э. Великовский

Национальный исследовательский Томский государственный университет
Аннотация: Проанализированы фазовые диаграммы и условия выращивания твердых растворов In$_{x}$Al$_{1-x}$N методами магнетронного распыления, молекулярно-лучевой эпитаксии и газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Взаимная равновесная растворимость в широкой области составов толстых слоев данного раствора близка к нулю. При этом наличие упругих напряжений несоответствия для тонких слоев In$_{x}$Al$_{1-x}$N сужает нестабильную область смешиваемости. Оптимизация условий выращивания позволяет получить однородные гомогенные слои In$_{x}$Al$_{1-x}$N высокого качества, пригодные для производства барьерного слоя в InAlN/GaN – транзисторах с высокой подвижностью электронов.
Ключевые слова: твердый раствор In$_{x}$Al$_{1-x}$N, фазовые диаграммы, зона несмешиваемости, фазовый распад, упругие напряжения несоответствия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 14.578.21.0240
Работа выполнена при финансовой поддержке ПНИЭР “Исследования и разработки технологии изготовления сверхвысокочастотных монолитных интегральных схем на основе гетероструктур InAlN/GaN для изделий космического применения” (Соглашение № 14.578.21.0240 от 26.09.2017 г.), УИР RFMEFI 57817X240.
Поступила в редакцию: 08.08.2019
Исправленный вариант: 12.08.2019
Принята в печать: 12.08.2019
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2019, Volume 53, Issue 12, Pages 1724–1730
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782619160061
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Н. Брудный, М. Д. Вилисова, Л. Э. Великовский, “Твердые растворы In$_{x}$Al$_{1-x}$N: проблемы стабильности состава”, Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1733–1739; Semiconductors, 53:12 (2019), 1724–1730
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BruVilVel19}
\by В.~Н.~Брудный, М.~Д.~Вилисова, Л.~Э.~Великовский
\paper Твердые растворы In$_{x}$Al$_{1-x}$N: проблемы стабильности состава
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2019
\vol 53
\issue 12
\pages 1733--1739
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5344}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2019.12.48636.9239}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41848208}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2019
\vol 53
\issue 12
\pages 1724--1730
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782619160061}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5344
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i12/p1733
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:36
    PDF полного текста:14
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024