Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 5, страницы 446–451
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.05.49257.9274
(Mi phts5228)
 

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Низкоразмерные структуры карбида кремния: аналитические оценки характеристик электронного спектра

С. Ю. Давыдов

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Методом функций Грина в представлении сильной связи рассмотрена электронная структура бесконечного листа карбида кремния и вырезанных из него нанолент и одномерных цепочек. Получены аналитические выражения для ширин запрещенных зон, эффективных масс и характерных скоростей электронов. Обсуждается влияние металлических и диэлектрических подложек на зонные характеристики.
Ключевые слова: зонная структура, эффективная масса, характерная скорость, наноленты, цепочки, подложка.
Поступила в редакцию: 30.09.2019
Исправленный вариант: 09.01.2020
Принята в печать: 14.01.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 5, Pages 523–528
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620050048
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. Ю. Давыдов, “Низкоразмерные структуры карбида кремния: аналитические оценки характеристик электронного спектра”, Физика и техника полупроводников, 54:5 (2020), 446–451; Semiconductors, 54:5 (2020), 523–528
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Dav20}
\by С.~Ю.~Давыдов
\paper Низкоразмерные структуры карбида кремния: аналитические оценки характеристик электронного спектра
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 5
\pages 446--451
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5228}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.05.49257.9274}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=42906056}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 5
\pages 523--528
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620050048}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5228
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i5/p446
  • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:46
    PDF полного текста:33
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024