Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 6, страницы 564–569
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.06.49386.9353
(Mi phts5222)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Физика полупроводниковых приборов

Модификация рельефа $n$-поверхности AlGaInN-светодиодов изменением состава газовой смеси при реактивном ионном травлении

Л. К. Марков, И. П. Смирнова, М. В. Кукушкин, А. С. Павлюченко

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Исследовалась зависимость рельефа, возникающего на освободившейся после удаления ростовой подложки поверхности светодиодной гетероструктуры, от состава газовой смеси, применявшейся в процессе реактивного ионного травления светодиодных гетероструктур состава AlGaInN. Показано, что использование смеси, состоящей из Cl$_{2}$ и Ar в соотношении 3 : 2 по скорости потоков приводит к наиболее тонкому рельефу, а газовая смесь BCl$_{3}$ и Ar в соотношении 2 : 1 обеспечивает наибольшие по размеру элементы структуры. Для изучения влияния характера рельефа на квантовый выход светодиодов были изготовлены серии флип-чип светодиодов на кремниевой подложке, которые после удаления ростовой подложки подвергались травлению в разных режимах. Оптимальным для достижения максимального вывода излучения из светодиодного кристалла с длиной волны собственного излучения 460 нм оказалось травление в смеси Cl$_{2}$ : BCl$_{3}$ : Ar в соотношении потоков 6 : 10 : 11, приводящее к промежуточным значениям размеров элементов рельефа травления. Изменение характера рельефа в зависимости от состава газовой смеси дает основания предполагать возможность подстройки параметров рельефа под используемую длину волну излучения. Изучение зависимости квантового выхода светодиодных кристаллов от времени травления в рассмотренной трехкомпонентной смеси приводит к оценке оптимального времени травления в районе 30 мин. Результаты настоящей работы могут быть полезны также при поиске условий минимизации отражения кристаллом падающего излучения, например, для фотоприемников.
Ключевые слова: светоизлучающий диод, светоизлучающий кристалл, рельеф поверхности, реактивное ионное травление, флип-чип конструкция, нитрид галлия.
Поступила в редакцию: 22.01.2020
Исправленный вариант: 28.01.2020
Принята в печать: 28.01.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 6, Pages 672–676
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620060111
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. К. Марков, И. П. Смирнова, М. В. Кукушкин, А. С. Павлюченко, “Модификация рельефа $n$-поверхности AlGaInN-светодиодов изменением состава газовой смеси при реактивном ионном травлении”, Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 564–569; Semiconductors, 54:6 (2020), 672–676
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MarSmiKuk20}
\by Л.~К.~Марков, И.~П.~Смирнова, М.~В.~Кукушкин, А.~С.~Павлюченко
\paper Модификация рельефа $n$-поверхности AlGaInN-светодиодов изменением состава газовой смеси при реактивном ионном травлении
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 6
\pages 564--569
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5222}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.06.49386.9353}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800482 }
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 6
\pages 672--676
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620060111}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5222
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i6/p564
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:39
    PDF полного текста:15
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024