Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 6, страницы 552–556
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.06.49384.9360
(Mi phts5220)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Углеродные системы

Транспортные процессы с участием атомов углерода между поверхностью и объемом родия при образовании и разрушении графена

Е. В. Рутьков, Е. Ю. Афанасьева, Н. Р. Галль

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Исследованы равновесные транспортные процессы с участием атомов углерода между поверхностью родиевого образца и его объемом, определяющие кинетику фазового перехода, вызывающего образование и разрушение графена. Найдена разность энергий активации растворения атомов углерода $E_{s1}$ и энергии активации выделения $E_{1s}$ из объема на поверхность $\Delta E$ = 0.7 эВ. Определена температурная зависимость критического покрытия $N_{eq}$ = $N_{eq}(T)$ в слое хемосорбированного углерода, при котором происходит двумерный фазовый переход и образуются островки графена: например, при $T$ = 1800 K $N_{eq}$ = 7.7 $ \cdot$ 10$^{14}$ см$^{-2}$, а при $T$ = 1000 K $N_{eq}$ = 3.1 $\cdot$ 10$^{14}$ см$^{-2}$.
Ключевые слова: графен, углерод, фазовый переход, родий.
Поступила в редакцию: 30.01.2020
Исправленный вариант: 10.02.2020
Принята в печать: 10.02.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 6, Pages 662–665
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620060147
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Е. В. Рутьков, Е. Ю. Афанасьева, Н. Р. Галль, “Транспортные процессы с участием атомов углерода между поверхностью и объемом родия при образовании и разрушении графена”, Физика и техника полупроводников, 54:6 (2020), 552–556; Semiconductors, 54:6 (2020), 662–665
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{RutAfaGal20}
\by Е.~В.~Рутьков, Е.~Ю.~Афанасьева, Н.~Р.~Галль
\paper Транспортные процессы с участием атомов углерода между поверхностью и объемом родия при образовании и разрушении графена
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 6
\pages 552--556
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5220}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.06.49384.9360}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800480}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 6
\pages 662--665
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620060147}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5220
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i6/p552
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:39
    PDF полного текста:13
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024