Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 743–747
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49645.9356
(Mi phts5190)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние температуры формирования на морфологию $por$-Si, получаемого методом Pd-стимулированного химического травления

Г. О. Силаковa, О. В. Воловликоваa, С. А. Гавриловa, А. В. Железняковаa, А. А. Дудинb

a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия
Аннотация: Изучен процесс Pd-стимулированного травления кремния в растворе, содержащем HF и H$_{2}$O$_{2}$. Показано влияние на морфологию получаемых слоев таких факторов, как длительность травления и температура раствора. Показано, что в процессе Pd-стимулированного травления наночастицы Pd остаются на стенках и дне пор. Такая структура, как было показано в ранних работах, обладает свойством электроокисления спиртов, что дает основания утверждать: формируемые структуры являются структурами типа структур Шоттки. С помощью диаграммы электрохимического равновесия в системе Si-HF(aq.) определена модель Pd-стимулированного травления. Показано, что происходит полирующее растворение Si без образования промежуточных продуктов (SiO$_{2}$).
Ключевые слова: пористый кремний, металл-стимулированое травление, MACE, наночастицы палладия.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 19-79-00205
Работа выполнена при финансовой поддержке Российского научного фонда (проект № 19-79-00205).
Поступила в редакцию: 05.03.2020
Исправленный вариант: 24.03.2020
Принята в печать: 24.03.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 8, Pages 890–894
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620080229
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Г. О. Силаков, О. В. Воловликова, С. А. Гаврилов, А. В. Железнякова, А. А. Дудин, “Влияние температуры формирования на морфологию $por$-Si, получаемого методом Pd-стимулированного химического травления”, Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 743–747; Semiconductors, 54:8 (2020), 890–894
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SilVolGav20}
\by Г.~О.~Силаков, О.~В.~Воловликова, С.~А.~Гаврилов, А.~В.~Железнякова, А.~А.~Дудин
\paper Влияние температуры формирования на морфологию $por$-Si, получаемого методом Pd-стимулированного химического травления
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 743--747
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5190}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49645.9356}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800747}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 890--894
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620080229}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5190
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i8/p743
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:37
    PDF полного текста:16
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024