Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 721–728
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49642.9389
(Mi phts5187)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физика полупроводниковых приборов

О токовой зависимости эффективности инжекции и относительном вкладе скорости эмиссии и внутренних оптических потерь в насыщение ватт-амперной характеристики мощных импульсных лазеров ($\lambda$ = 1.06 мкм)

А. В. Рожков

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Приведены результаты численного моделирования токовой зависимости эффективности инжекции в активную область лазера на основе двойных гетероструктур раздельного ограничения. Показана особенность переноса носителей заряда через изотипные $N$$n$-гетеропереходы на границе волноводных и активной областей. С использованием классических зависимостей теории Друде–Лоренца проведена оценка сечений рассеяния электронов $(\sigma_{e})$ и дырок $(\sigma_{p})$ для GaAs-волновода. Полученные значения $\sigma_{e}$ = 1.05 $\cdot$ 10$^{-18}$ см$^{2}$, $\sigma_{p}$ = 1.55 $\cdot$ 10$^{-19}$ см$^{2}$ и токовые зависимости эффективности инжекции позволили определить ключевую причину ограничения импульсной мощности полупроводниковых лазеров. Установлено, что внутренние оптические потери составляют незначительную долю потерь, а определяющий вклад в насыщение ватт-амперной характеристики дает эмиссия дырок в волновод.
Ключевые слова: термоэлектронная эмиссия, полупроводниковый лазер, изотипный гетеропереход, насыщение ватт-амперной характеристики.
Поступила в редакцию: 05.03.2020
Исправленный вариант: 23.03.2020
Принята в печать: 23.03.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 8, Pages 869–876
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620080217
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Рожков, “О токовой зависимости эффективности инжекции и относительном вкладе скорости эмиссии и внутренних оптических потерь в насыщение ватт-амперной характеристики мощных импульсных лазеров ($\lambda$ = 1.06 мкм)”, Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 721–728; Semiconductors, 54:8 (2020), 869–876
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Roz20}
\by А.~В.~Рожков
\paper О токовой зависимости эффективности инжекции и относительном вкладе скорости эмиссии и внутренних оптических потерь в насыщение ватт-амперной характеристики мощных импульсных лазеров ($\lambda$ = 1.06 мкм)
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 721--728
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5187}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49642.9389}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800744}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 869--876
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620080217}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5187
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i8/p721
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:42
    PDF полного текста:18
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024