Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 8, страницы 716–719
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49655.9399
(Mi phts5186)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Влияние имплантации ионов Al$^{+}$ на состав, электронную и кристаллическую структуру поверхности GaP(111)

С. Б. Донаев, Б. Е. Умирзаков

Ташкентский государственный технический университет
Аннотация: Методом имплантации ионов Al$^{+}$ c $E_{0}$= 1 кэВ разными дозами на поверхности монокристалла GaP(111) получены нанокристаллические фазы и пленки GaAlP, изучены их электронная и кристаллическая структура. Показано, что тип и параметры решетки трехкомпонентной наноструктуры хорошо совпадают с таковыми для подложки. Изучена взаимосвязь между шириной запрещенной зоны $E_{g}$ и размерами нанокристаллических фаз. Установлено, что в случае поверхностных размеров фаз $d$ меньше чем 35–40 нм (толщина 3.5–4 нм), в нанокристаллических фазах Ga$_{0.6}$Al$_{0.4}$P проявляются квантово-размерные эффекты.
Ключевые слова: поверхность, монокристалл, ионная имплантация, нанокристаллическая фаза, ширина запрещенной зоны, квантово-размерный эффект.
Поступила в редакцию: 23.03.2020
Исправленный вариант: 31.03.2020
Принята в печать: 31.03.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 8, Pages 860–862
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620080072
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. Б. Донаев, Б. Е. Умирзаков, “Влияние имплантации ионов Al$^{+}$ на состав, электронную и кристаллическую структуру поверхности GaP(111)”, Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 716–719; Semiconductors, 54:8 (2020), 860–862
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DonUmi20}
\by С.~Б.~Донаев, Б.~Е.~Умирзаков
\paper Влияние имплантации ионов Al$^{+}$ на состав, электронную и кристаллическую структуру поверхности GaP(111)
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 716--719
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5186}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.08.49655.9399}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800743}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 8
\pages 860--862
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620080072}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5186
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i8/p716
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:40
    PDF полного текста:9
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024