Структура и оптические свойства халькогенидного стеклообразного полупроводника As–Ge–Te

Методами рентгеноструктурного анализа, рамановской спектроскопии, измерением оптического пропускания и плотности исследованы структура и оптические свойства пленки халькогенидного стеклообразного полупроводника As–Ge–Te. Определены основные структурные элементы и химические связи, образующие аморфную матрицу, а также оптическая ширина запрещенной зоны. Полученные результаты объяснены с учетом основных принципов химического упорядочения и параметров ближнего порядка в расположении атомов.