Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 10, страницы 1035–1040
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.10.49940.9449
(Mi phts5135)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Влияние ультрафиолетового излучения и электрического поля на проводимость структур на основе $\alpha$- и $\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$

В. М. Калыгинаa, В. И. Николаевbc, А. В. Алмаевa, А. В. Цымбаловa, В. В. Копьевa, Ю. С. Петроваa, И. А. Печниковc, П. Н. Бутенкоc

a Национальный исследовательский Томский государственный университет
b ООО "Совершенные кристаллы", 194064 Санкт-Петербург, Россия
c Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Рассмотрено влияние ультрафиолетового излучения и сильного электрического поля на проводимость структур на основе двух типов полиморфных пленок оксида галлия. Оба типа пленок Ga$_{2}$O$_{3}$ получены осаждением из газовой фазы методом хлоридной эпитаксии на гладкие и структурированные сапфировые подложки ориентации (0001). В одном и том же процессе на гладких подложках росли $\alpha$-Ga$_{2}$O$_{3}$ пленки, а на структурированных – пленки оксида галлия, с регулярными структурами, перпендикулярными к подложке, содержащими чередующиеся области $\alpha$- и $\varepsilon$-фазы. Резистивные структуры на основе двухфазных пленок обнаруживают переход из состояния с низким сопротивлением в состояние с высоким сопротивлением при воздействии излучения с $\lambda$ = 254 нм и сильного электрического поля. Время формирования отклика на УФ излучение – 5 с, время восстановления меньше 1 с.
Ключевые слова: оксид галлия, HVPE, полиморфизм, ультрафиолет, вольт-амперные характеристики.
Поступила в редакцию: 27.05.2020
Исправленный вариант: 02.06.2020
Принята в печать: 02.06.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 10, Pages 1224–1229
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620100152
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. М. Калыгина, В. И. Николаев, А. В. Алмаев, А. В. Цымбалов, В. В. Копьев, Ю. С. Петрова, И. А. Печников, П. Н. Бутенко, “Влияние ультрафиолетового излучения и электрического поля на проводимость структур на основе $\alpha$- и $\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$”, Физика и техника полупроводников, 54:10 (2020), 1035–1040; Semiconductors, 54:10 (2020), 1224–1229
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KalNikAlm20}
\by В.~М.~Калыгина, В.~И.~Николаев, А.~В.~Алмаев, А.~В.~Цымбалов, В.~В.~Копьев, Ю.~С.~Петрова, И.~А.~Печников, П.~Н.~Бутенко
\paper Влияние ультрафиолетового излучения и электрического поля на проводимость структур на основе $\alpha$- и $\varepsilon$-Ga$_{2}$O$_{3}$
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 10
\pages 1035--1040
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5135}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.10.49940.9449}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44041212}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 10
\pages 1224--1229
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620100152}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5135
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i10/p1035
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:34
    PDF полного текста:39
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024