Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 12, страницы 1364–1367
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2020.12.50238.9494
(Mi phts5112)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Физика полупроводниковых приборов

Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах

А. М. Стрельчукa, А. А. Лебедевa, П. В. Булатb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Балтийский государственный технический университет "Военмех" им. Д. Ф. Устинова, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Исследованы прямые и обратные вольт-амперные характеристики коммерческих выпрямительных диодов на основе барьера Шоттки к 4$H$-SiC в диапазоне температур 20–370$^\circ$С; максимальный ток составлял 10–20 мА, максимальное напряжение 10–100 В. Установлено, что диоды можно считать близкими к идеальным с высотой барьера Шоттки $\sim$1.5 эВ, при этом прямой ток во всем диапазоне температур, а обратный ток при высоких температурах в значительной степени обусловлены термоэлектронной эмиссией. Верхняя граница диапазона рабочих температур выпрямительных диодов Шоттки на основе 4$H$-SiC при исследуемых токах и напряжениях примерно соответствует фундаментальной границе, определяемой высотой барьера, и в представленном эксперименте достигает 370$^\circ$C.
Ключевые слова: карбид кремния, выпрямительный диод, барьер Шоттки, высокая температура.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации FZWF-2020-0015
Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в ходе реализации проекта “Создание опережающего научно-технического задела в области разработки передовых технологий малых газотурбинных, ракетных и комбинированных двигателей сверхлегких ракет-носителей, малых космических аппаратов и беспилотных воздушных судов, обеспечивающих приоритетные позиции российских компаний на формируемых глобальных рынках будущего”, № FZWF-2020-0015.
Поступила в редакцию: 23.07.2020
Исправленный вариант: 27.07.2020
Принята в печать: 27.07.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2020, Volume 54, Issue 12, Pages 1624–1627
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782620120374
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. М. Стрельчук, А. А. Лебедев, П. В. Булат, “Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах”, Физика и техника полупроводников, 54:12 (2020), 1364–1367; Semiconductors, 54:12 (2020), 1624–1627
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{StrLebBul20}
\by А.~М.~Стрельчук, А.~А.~Лебедев, П.~В.~Булат
\paper Характеристики выпрямительных диодов Шоттки на основе карбида кремния при повышенных температурах
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2020
\vol 54
\issue 12
\pages 1364--1367
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5112}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2020.12.50238.9494}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=44368072}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2020
\vol 54
\issue 12
\pages 1624--1627
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782620120374}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5112
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v54/i12/p1364
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024