Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 4, страницы 365–372
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2021.04.50742.9574
(Mi phts5059)
 

Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Применение метода атомно-слоевого осаждения для получения наноструктурированных покрытий ITO/Al$_{2}$O$_{3}$

Л. К. Марковa, А. С. Павлюченкоa, И. П. Смирноваa, М. В. Мешb, Д. С. Колоколовbc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b АО "СКТБ Кольцова", Санкт-Петербург, Россия
c Институт химии Санкт-Петербургского государственного университета, Санкт-Петербург, Россия
Аннотация: На полученные методом электронно-лучевого испарения наноструктурированные оптически прозрачные и проводящие покрытия из оксида индия + олова методом атомно-слоевого осаждения наносились дополнительные слои Al$_{2}$O$_{3}$ нанометровой толщины. Использовались покрытия из оксида индия + олова, содержащие нитевидные кристаллы преимущественно вертикальной ориентации и обладающие эффективным показателем преломления, монотонно убывающим в направлении, перпендикулярном плоскости подложки. Изучалось влияние толщины наносимого слоя Al$_{2}$O$_{3}$ на оптические характеристики получаемых образцов. Показано, что применение метода атомно-слоевого осаждения позволяет равномерно покрывать защитными оболочками нитевидные кристаллы наноструктурированных пленок из оксида индия + олова большой толщины, в которых верхние нити затеняют нижележащие, что позволит получать более стойкие к воздействию внешней среды просветляющие проводящие покрытия с требуемыми параметрами. При нанесении защитного слоя Al$_{2}$O$_{3}$ сохраняется градиентный характер показателя преломления, присущий исходной пленке ITO.
Ключевые слова: метод атомно-слоевого осаждения, наноструктурированные пленки ITO.
Поступила в редакцию: 11.12.2020
Исправленный вариант: 19.12.2020
Принята в печать: 19.12.2020
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2021, Volume 55, Issue 4, Pages 438–445
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782621040102
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. К. Марков, А. С. Павлюченко, И. П. Смирнова, М. В. Меш, Д. С. Колоколов, “Применение метода атомно-слоевого осаждения для получения наноструктурированных покрытий ITO/Al$_{2}$O$_{3}$”, Физика и техника полупроводников, 55:4 (2021), 365–372; Semiconductors, 55:4 (2021), 438–445
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MarPavSmi21}
\by Л.~К.~Марков, А.~С.~Павлюченко, И.~П.~Смирнова, М.~В.~Меш, Д.~С.~Колоколов
\paper Применение метода атомно-слоевого осаждения для получения наноструктурированных покрытий ITO/Al$_{2}$O$_{3}$
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 4
\pages 365--372
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts5059}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2021.04.50742.9574}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46474717}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2021
\vol 55
\issue 4
\pages 438--445
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782621040102}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts5059
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i4/p365
  • Эта публикация цитируется в следующих 6 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:78
    PDF полного текста:70
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024