|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Физика полупроводниковых приборов
Влияние внутренних отражателей на эффективность инфракрасных (850 нм) светодиодов
А. В. Малевская, Н. А. Калюжный, Д. А. Малевский, С. А. Минтаиров, Р. А. Салий, А. Н. Паньчак, П. В. Покровский, Н. С. Потапович, В. М. Андреев Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Выполнены исследования инфракрасных светодиодов с длиной волны излучения 850 нм на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs, выращенных методом МОС-гидридной эпитаксии, с брэгговским отражателем и дополнительным “отражающим” слоем Al$_{0.9}$Ga$_{0.1}$As, обеспечивающими снижение внутренних оптических потерь генерируемого излучения. Разработана постростовая технология формирования фронтальных полосковых омических контактов и текстурирования световыводящей поверхности, позволившая снизить омические потери и увеличить эффективность вывода излучения из кристалла. Внешний квантовый выход светодиодов с двумя внутренними отражателями и текстурированием составил $>$ 9% в диапазоне токов 0.1–1.4 А.
Ключевые слова:
инфракрасный излучающий диод, брэгговский отражатель, текстурирование.
Поступила в редакцию: 09.03.2021 Исправленный вариант: 15.03.2021 Принята в печать: 15.03.2021
Образец цитирования:
А. В. Малевская, Н. А. Калюжный, Д. А. Малевский, С. А. Минтаиров, Р. А. Салий, А. Н. Паньчак, П. В. Покровский, Н. С. Потапович, В. М. Андреев, “Влияние внутренних отражателей на эффективность инфракрасных (850 нм) светодиодов”, Физика и техника полупроводников, 55:7 (2021), 614–617; Semiconductors, 55:8 (2021), 686–690
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5018 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i7/p614
|
|