|
Электронные свойства полупроводников
Температурная зависимость ширины запрещенной зоны монокристаллов AgIn$_{8}$S$_{12.5}$
И. В. Боднарьa, А. А. Фещенкоa, В. В. Хорошкоa, В. Н. Павловскийb, И. Е. Свитенковb, Г. П. Яблонскийa a Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск, Беларусь
b Институт физики им. Б. И. Степанова НАН Беларуси, г. Минск
Аннотация:
Вертикальным методом Бриджмена выращены монокристаллы AgIn$_{8}$S$_{12.5}$. Методом рентгеноспектрального анализа определен состав полученных монокристаллов, методом рентгеновской дифракции – кристаллическая структура. Показано, что выращенные монокристаллы кристаллизуются в кубической структуре шпинели. По спектрам пропускания в интервале температур 10–320 K определена ширина запрещенной зоны, которая с понижением температуры возрастает.
Ключевые слова:
метод Бриджмена, монокристаллы, кристаллическая структура, спектры пропускания, ширина запрещенной зоны.
Поступила в редакцию: 11.01.2021 Исправленный вариант: 02.04.2021 Принята в печать: 16.04.2021
Образец цитирования:
И. В. Боднарь, А. А. Фещенко, В. В. Хорошко, В. Н. Павловский, И. Е. Свитенков, Г. П. Яблонский, “Температурная зависимость ширины запрещенной зоны монокристаллов AgIn$_{8}$S$_{12.5}$”, Физика и техника полупроводников, 55:8 (2021), 669–672
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts4999 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i8/p669
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 45 | PDF полного текста: | 15 |
|