Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 9, страницы 798–806
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2021.09.51297.27
(Mi phts4985)
 

XXV Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 9-12 марта 2021 г.

Образование оксидного поверхностного слоя и его влияние на рост эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов кремния

В. А. Небольсин, Н. А. Свайкат, А. Ю. Воробьев, Т. А. Перепечина, Л. В. Ожогина

Воронежский государственный технический университет
Аннотация: Установлено, что при выращивании нитевидных нанокристаллов Si в потоке Н$_{2}$, не подвергшемся дополнительной очистке от остатков О$_{2}$ и паров воды, на поверхности кристаллов и на ростовой подложке образуются слои SiO$_{2}$. Из-за присутствия оксидного поверхностного слоя рост нитевидных нанокристаллов Si заторможен, кристаллы характеризуются сильной морфологической неустойчивостью. Определены термодинамические условия образования поверхностного оксидного слоя и его влияния на рост нитевидных нанокристаллов Si. При температурах синтеза 750–1400 K нитевидные кристаллы Si термодинамически неустойчивы в газовой фазе, содержащей любые ощутимо малые концентрации O$_{2}$, и при благоприятных кинетических условиях Si должен всецело превращаться в оксид. Термическая диссоциация и водородное восстановление SiO$_{2}$ в условиях роста кристаллов Si практически неосуществимы.
Ключевые слова: нитевидные нанокристаллы, кремний, рост, оксидный слой.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 19-33-90219
Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований в рамках научного проекта № 19-33-90219.
Поступила в редакцию: 12.04.2021
Исправленный вариант: 19.04.2021
Принята в печать: 19.04.2021
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2021, Volume 55, Issue 10, Pages 771–779
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782621090153
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. А. Небольсин, Н. А. Свайкат, А. Ю. Воробьев, Т. А. Перепечина, Л. В. Ожогина, “Образование оксидного поверхностного слоя и его влияние на рост эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов кремния”, Физика и техника полупроводников, 55:9 (2021), 798–806; Semiconductors, 55:10 (2021), 771–779
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NebSwaVor21}
\by В.~А.~Небольсин, Н.~А.~Свайкат, А.~Ю.~Воробьев, Т.~А.~Перепечина, Л.~В.~Ожогина
\paper Образование оксидного поверхностного слоя и его влияние на рост эпитаксиальных нитевидных нанокристаллов кремния
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 9
\pages 798--806
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts4985}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2021.09.51297.27}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46491087}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2021
\vol 55
\issue 10
\pages 771--779
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782621090153}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts4985
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i9/p798
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:38
    PDF полного текста:60
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024