Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 11, страницы 1068–1076
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2021.11.51562.9650
(Mi phts4943)
 

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Система локализованных экситонов на кислородных комплексах в CdS

Н. К. Морозоваa, И. Н. Мирошниковаab

a Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт»
b Институт нанотехнологий микроэлектроники РАН, Москва, Россия
Аннотация: Интенсивное свечение CdS в голубой и зеленой областях спектра широко используется во всех областях оптоэлектроники. Приведены результаты исследования оптических свойств CdS на базе теории антипересекающихся зон с привлечением более широких исходных данных к анализу результатов. В зависимости от условий роста учтено присутствие и изменение концентрации кислорода и собственных точечных дефектов, определяющих состав кристаллов. Введены представления о неравномерном распределении изоэлектронных кислородных центров в объеме CdS вследствие преимущественной сегрегации их на компенсирующих дефектах упаковки. Для анализа экспериментальных данных использовались возможности построения зонных моделей, которые объединяют обширную и разностороннюю информацию о конкретных образцах. Представлена модель мультизоны CdS$\cdot$O с дефектами упаковки, определяющая спектр зеленого краевого излучения. Дано объяснение природы краевого излучения сульфида кадмия как экситонов, локализованных на кислородных комплексах. Показано, что присутствие изоэлектронных кислородных центров проявляется в электрофизических свойствах кристаллов. Даны рекомендации по диагностике кристаллов, пригодных для создания стабильных в эксплуатации люминесцирующих систем или лазеров.
Ключевые слова: изоэлектронные центры, теория антипересекающихся зон, локализованный экситон, дефекты упаковки, точечные дефекты, стимулированное излучение.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 18-29-11051
Работа выполнена при финансовой поддержке программы гранта РФФИ № 18-29-11051.
Поступила в редакцию: 14.05.2021
Исправленный вариант: 15.06.2021
Принята в печать: 15.06.2021
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. К. Морозова, И. Н. Мирошникова, “Система локализованных экситонов на кислородных комплексах в CdS”, Физика и техника полупроводников, 55:11 (2021), 1068–1076
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{MorMir21}
\by Н.~К.~Морозова, И.~Н.~Мирошникова
\paper Система локализованных экситонов на кислородных комплексах в CdS
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 11
\pages 1068--1076
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts4943}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2021.11.51562.9650}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46668677}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts4943
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i11/p1068
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:46
    PDF полного текста:28
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024