Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 12, страницы 1180–1185
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2021.12.51703.9724
(Mi phts4914)
 

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития

Л. В. Григорьевab, А. А. Семеновa, А. В. Михайловc

a Санкт-Петербургский государственный университет
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ»
c Всероссийский научный центр "Государственный оптический институт им. С. И. Вавилова", г. Санкт-Петербург
Аннотация: Представлены результаты исследования структурных и фотоэлектрических свойств тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO$_{3}$. Приведены результаты рентгеноструктурного анализа и данных атомно-силовой микроскопии для пленок оксида цинка, синтезированных на подложке из монокристаллического танталата лития и на подложке из полированного кварца КУ-1. Приведена спектральная зависимость фотоэлектрического тока тонкопленочной структуры ZnО-LiTaO$_{3}$ и структуры ZnO-кварц в ультрафиолетовом и видимом диапазонах спектра. Представлены результаты восстановления методом регуляризации Тихонова-Лаврентьева энергетического спектра оптически активных дефектов, присутствующих в структуре ZnО-LiTaO$_{3}$.
Ключевые слова: тонкие пленки, оксид цинка, лазерная абляция, сегнетоэлектрические материалы, фотопроводимость, рентгеноструктурный анализ, атомно-силовая микроскопия, регуляризация Тихонова–Лаврентьева.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации FSEE-2020-0005
Работа частично поддержана Министерством науки и высшего образования Российской Федерации (проект “Госзадание”, грант № FSEE-2020-0005).
Поступила в редакцию: 27.07.2021
Исправленный вариант: 02.08.2021
Принята в печать: 02.08.2021
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. В. Григорьев, А. А. Семенов, А. В. Михайлов, “Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития”, Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021), 1180–1185
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GriSemMik21}
\by Л.~В.~Григорьев, А.~А.~Семенов, А.~В.~Михайлов
\paper Структурные и фотоэлектрические свойства тонких пленок оксида цинка на подложке танталата лития
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2021
\vol 55
\issue 12
\pages 1180--1185
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts4914}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2021.12.51703.9724}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46667388}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts4914
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v55/i12/p1180
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:88
    PDF полного текста:63
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024