Лазерный послойный количественный анализ с субмикронным разрешением функциональных покрытий промышленных изделий

Исследованы возможности двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии для количественного анализа с субмикронным разрешением латунного, бронзового и Ti-Zr-покрытий промышленных изделий. Предложен метод управления плотностью потока лазерного излучения на поверхности, позволяющий изменять толщину испаряемого слоя вещества в диапазоне от $0{,}1$ до $5$ мкм. Выявлено, что нагрев образца в процессе нанесения покрытия обусловливает неравномерное распределение компонентов покрытия вследствие явления термодиффузии.