|
Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем
Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов
К. А. Попков Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия
Аннотация:
Доказано, что для любого натурального $k$ любую булеву функцию можно реализовать двухполюсной контактной схемой, $k$-неизбыточной и допускающей $k$-проверяющий тест длины не более $3$ относительно произвольных связных неисправностей контактов в группах, где каждая группа состоит из одного замыкающего и одного размыкающего контакта. Установлено, что если булева функция не является самодвойственной, то оценку можно понизить до $2$.
Ключевые слова:
контактная схема, связные неисправности контактов, проверяющий тест, булева функция.
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов”, ПДМ, 2023, № 62, 71–82
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pdm821 https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2023/i4/p71
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 74 | PDF полного текста: | 35 | Список литературы: | 14 |
|