Прикладная дискретная математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



ПДМ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Прикладная дискретная математика, 2017, номер 38, страницы 66–88
DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/38/5
(Mi pdm602)
 

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание”

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия
Список литературы:
Аннотация: Рассматривается задача синтеза неизбыточных схем из функциональных элементов, реализующих булевы функции от n переменных и допускающих короткие единичные проверяющие тесты относительно однотипных константных неисправностей на выходах элементов, в базисе {&,¬} и схожих базисах. Для каждой булевой функции, допускающей реализацию неизбыточной схемой, найдено минимально возможное значение длины такого теста. В частности, доказано, что оно не превосходит трёх.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, константная неисправность, единичный проверяющий тест.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский научный фонд 14-21-00025 П
Работа выполнена при поддержке гранта РНФ, проект № 14-21-00025 П.
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в базисе “конъюнкция-отрицание””, ПДМ, 2017, № 38, 66–88
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop17}
\by К.~А.~Попков
\paper Единичные проверяющие тесты для схем из функциональных элементов в~базисе ``конъюнкция-отрицание''
\jour ПДМ
\yr 2017
\issue 38
\pages 66--88
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm602}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/38/5}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm602
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2017/i4/p66
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    1. К. А. Попков, “О самокорректирующихся схемах из ненадежных функциональных элементов, имеющих не более двух входов”, Матем. заметки, 111:1 (2022), 145–148  mathnet  crossref  mathscinet; K. A. Popkov, “On Self-Correcting Logic Circuits of Unreliable Gates with at Most Two Inputs”, Math. Notes, 111:1 (2022), 157–160  crossref  isi
    2. К. А. Попков, “Короткие единичные проверяющие тесты для схем при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2022, № 55, 59–76  mathnet  crossref  mathscinet
    3. К. А. Попков, “О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов”, ПДМ, 2021, № 51, 85–100  mathnet  crossref
    4. К. А. Попков, “Короткие единичные тесты для схем при произвольных константных неисправностях на выходах элементов”, Дискрет. матем., 30:3 (2018), 99–116  mathnet  crossref  mathscinet  elib; K. A. Popkov, “Short single tests for circuits with arbitrary stuck-at faults at outputs of gates”, Discrete Math. Appl., 29:5 (2019), 321–333  crossref  isi
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Прикладная дискретная математика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:187
    PDF полного текста:104
    Список литературы:46
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025