Прикладная дискретная математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ПДМ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Прикладная дискретная математика, 2016, номер 4(34), страницы 65–73
DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/34/5 (Mi pdm564) 		 
Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)

Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем

Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

К. А. Попков

Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия
PDF полного текста (659 kB) Список цитирования (10)
Список литературы:
PDF
HTML
DOI: https://doi.org/10.17223/20710410/34/5
Аннотация: Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова: схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 14-01-00598_а
Российская академия наук - Федеральное агентство научных организаций
Работа выполнена при поддержке РФФИ (проект № 14-01-00598) и программы фундаментальных исследований ОМН РАН «Алгебраические и комбинаторные методы математической кибернетики и информационные системы нового поколения» (проект «Задачи оптимального синтеза управляющих систем»).
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
УДК: 519.718.7
Образец цитирования: К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, ПДМ, 2016, № 4(34), 65–73
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Pop16}
\by К.~А.~Попков
\paper Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
\jour ПДМ
\yr 2016
\issue 4(34)
\pages 65--73
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pdm564}
\crossref{https://doi.org/10.17223/20710410/34/5}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm564
  • https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2016/i4/p65
    • Эта публикация цитируется в следующих 10 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Прикладная дискретная математика
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024