|
Эта публикация цитируется в 10 научных статьях (всего в 10 статьях)
Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
К. А. Попков Институт прикладной математики им. М. В. Келдыша РАН, г. Москва, Россия
Аннотация:
Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов:
1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.
Ключевые слова:
схема из функциональных элементов, неисправность, полный диагностический тест, тест для входов схем.
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем”, ПДМ, 2016, № 4(34), 65–73
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pdm564 https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2016/i4/p65
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 180 | PDF полного текста: | 46 | Список литературы: | 44 |
|