|
Прикладная дискретная математика, 2010, номер 2(8), страницы 59–73
(Mi pdm175)
|
|
|
|
Математические основы надежности вычислительных и управляющих систем
Применение ненадёжных тестов для самодиагностики модульных вычислительных систем при кратных отказах
Ю. К. Димитриевa, А. Ф. Задорожныйb a Институт физики полупроводников СО РАН, г. Новосибирск, Россия
b Новосибирский архитектурно-строительный университет, г. Новосибирск, Россия
Аннотация:
Исследуется самодиагностирование на системном уровне для модульных вычислительных систем (ВС) при кратных неисправностях и при использовании ненадёжных тестов. Конкретизировано понятие, введена численная характеристика ненадёжного теста. Предложена классификация ненадёжных тестов по введённому критерию. Выделен класс ненадёжных тестов, перспективный в отношении его практической реализации. Методом имитационно-статистического моделирования проанализирована зависимость эффективности самодиагностирования от свойств ненадёжного теста. Анализ проведён на примере описанного авторами децентрализованного алгоритма самодиагностирования. Выполнено сравнение введённых показателей эффективности самодиагностирования при использовании ненадёжных тестов, соответствующих известной модели ПМЧ (Препараты, Метца и Чжена), и в случае применения предложенного авторами класса ненадёжных тестов. Определены условия, при которых использование класса предложенных авторами ненадёжных тестов позволяет улучшать показатели эффективности средств самодиагностирования ВС.
Ключевые слова:
модели самодиагностирования, модульные системы, кратные отказы, ненадёжные тесты.
Образец цитирования:
Ю. К. Димитриев, А. Ф. Задорожный, “Применение ненадёжных тестов для самодиагностики модульных вычислительных систем при кратных отказах”, ПДМ, 2010, № 2(8), 59–73
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pdm175 https://www.mathnet.ru/rus/pdm/y2010/i2/p59
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 202 | PDF полного текста: | 76 | Список литературы: | 46 | Первая страница: | 1 |
|