Спектральная и угловая зависимости эффективности трехслойных рельефно-фазовых дифракционных элементов ИК диапазона

В рамках скалярной и строгой теории дифракции, основанной на решении системы уравнений Максвелла, проведено исследование пилообразных рельефно-фазовых трехслойных микроструктур, рассчитанных на работу с полихроматическим излучением среднего ИК диапазона (3 $\le\lambda\le$ 5 $\mu$m). Расширен ряд эффективных микроструктур, скомпонованных из различных оптических материалов, и минимизированы глубины их рельефов. Ряд расширен, в частности, за счет микроструктур, у которых френелевские потери на отражение от обоих рельефов не превышают 10%. Этот фактор в совокупности с относительно небольшой суммарной глубиной рельефов может оказаться определяющим при выборе той или иной микроструктуры для решения конкретной научной или технической задачи.