|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Спектроскопия конденсированного состояния
Поляризационные измерения комбинационного рассеяния света в слоях кремния на сапфире
А. В. Иго Ульяновский государственный университет, 432063 Ульяновск, Россия
Аннотация:
Проведены измерения интенсивности поляризованных компонент комбинационного рассеяния света для различных кристаллографических направлений в эпитаксиальных слоях кремния на сапфире. Эксперимент показывает, что рассеянное излучение имеет значительную деполяризованную составляющую, которая напрямую связана с дефектностью эпитаксиального слоя. Для описания дефектного кристаллического слоя кремния на сапфире предложена модель ансамбля кристаллитов. Показано, что по отношению интенсивностей поляризованной и деполяризованной компонент можно определить характерную величину разупорядочения кристаллических доменов в эпитаксиальном слое. По измерениям интенсивности комбинационного рассеяния света в зависимости от кристаллографического направления определена анизотропия тензора комбинационного рассеяния света. Получены численные значения для двух образцов.
Поступила в редакцию: 09.11.2017 Исправленный вариант: 15.03.2018
Образец цитирования:
А. В. Иго, “Поляризационные измерения комбинационного рассеяния света в слоях кремния на сапфире”, Оптика и спектроскопия, 125:1 (2018), 25–30; Optics and Spectroscopy, 125:1 (2018), 28–33
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/os951 https://www.mathnet.ru/rus/os/v125/i1/p25
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 31 | PDF полного текста: | 14 |
|