Оптика и спектроскопия
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Оптика и спектроскопия:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Оптика и спектроскопия, 2018, том 125, выпуск 2, страницы 284–288
DOI: https://doi.org/10.21883/OS.2018.08.46374.43-18
(Mi os945)
 

Прикладная оптика

Повышение устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонению в параметрах слоев, входящих в их состав

Нго Тхай Фи, Л. А. Губанова, Фам Ван Хоа

Университет ИТМО, 197101 Санкт Петербург, Россия
Аннотация: Представлен новый метод повышения устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонениям в параметрах слоев, входящих в их состав. С помощью этого метода возможно получить спектральную характеристику энергетических коэффициентов пропускания (или отражения) экспериментального изготовленного покрытия, которая максимально приближена к характеристике синтезированного. Представлен способ использования нескольких образцов для контроля толщины слоев в процессе их формирования с целью уменьшения отклонения оптических слоев в процессе изготовления интерференционных покрытий.
Поступила в редакцию: 13.02.2018
Англоязычная версия:
Optics and Spectroscopy, 2018, Volume 125, Issue 2, Pages 300–304
DOI: https://doi.org/10.1134/S0030400X18080180
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Нго Тхай Фи, Л. А. Губанова, Фам Ван Хоа, “Повышение устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонению в параметрах слоев, входящих в их состав”, Оптика и спектроскопия, 125:2 (2018), 284–288; Optics and Spectroscopy, 125:2 (2018), 300–304
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NgoGubPha18}
\by Нго~Тхай~Фи, Л.~А.~Губанова, Фам~Ван~Хоа
\paper Повышение устойчивости спектральных характеристик интерференционных покрытий к отклонению в параметрах слоев, входящих в их состав
\jour Оптика и спектроскопия
\yr 2018
\vol 125
\issue 2
\pages 284--288
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/os945}
\crossref{https://doi.org/10.21883/OS.2018.08.46374.43-18}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=35270077}
\transl
\jour Optics and Spectroscopy
\yr 2018
\vol 125
\issue 2
\pages 300--304
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0030400X18080180}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/os945
  • https://www.mathnet.ru/rus/os/v125/i2/p284
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Оптика и спектроскопия Оптика и спектроскопия
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:18
    PDF полного текста:7
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024