Слабая оптическая анизотропия и ее обнаружение на примере тетрабората стронция, активированного ионами иттербия

Предложен и экспериментально реализован метод, позволяющий обнаружить и измерить слабую оптическую анизотропию. Исследован тетраборат стронция, активированный ионами иттербия, который считается аморфным стеклом; в нем обнаружено и измерено наличие анизотропии, соизмеримой с инструментальными погрешностями угломерных устройств эллипсометра. В основе предложенного подхода лежит ранее развитый эффективный и относительно простой метод, для которого вклад в формирование результирующего пучка от поверхностного (переходного) слоя существенно меньше, чем от объема материала. Также используются соотношения измерительных зон эллипсометра. Изложены некоторые важные аспекты оптической и механической юстировки эллипсометров применительно к исследованию слабой анизотропии.