Угловые зависимости интенсивности комбинационного рассеяния света на поляритонах в кристалле фосфида галлия

Измерено комбинационное рассеяния света на фононах и поляритонах в образце фосфида галлия. Для возбуждения использовался несфокусированный пучок одномодового лазера 532 nm. Сбор рассеянного излучения производился с помощью передвижного зеркала малого диаметра, что позволило измерять спектры рассеянного света в диапазоне углов рассеяния 0.6$^\circ$–8$^\circ$ с угловой суммарной расходимостью 0.4$^\circ$. Для разных кристаллографических направлений измерялись интенсивности поляризованных компонент комбинационного рассеянного света на продольных, поперечных фононах и поляритонах в области сильной дисперсии поляритонной ветви для трех фиксированных аксиальных углов рассеяния. Компоненты рассеяния на продольных оптических фононах и поляритонах имеют сильную зависимость от кристаллографического направления как и предсказывает теория, а компонента рассеяния на поперечных оптических фононах не зависела от кристаллографического направления. Обнаружено, что интенсивность рассеяния на поперечных оптических фононах коррелирует с шириной спектральной линии рассеяния на поляритоне. Предложен механизм, объясняющий эту корреляцию.