Оптика и спектроскопия
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Оптика и спектроскопия:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Оптика и спектроскопия, 2020, том 128, выпуск 5, страницы 631–637
DOI: https://doi.org/10.21883/OS.2020.05.49322.343-19 (Mi os419) 		 
Физическая оптика

Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений

Д. Б. Деминa, А. И. Клеевb, А. Г. Кюркчанacd

a Московский технический университет связи и информатики
b Институт физических проблем им. П. Л. Капицы РАН, г. Москва
c Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
d Центральный научно-исследовательский институт связи, г. Москва
PDF полного текста (178 kB)
DOI: https://doi.org/10.21883/OS.2020.05.49322.343-19
Аннотация: Развита методика приближенного расчета характеристик рассеяния, основанная на использовании метода диаграммных уравнений (МДУ). Получены явные формулы для интегральных характеристик рассеяния, применимые для тонких диэлектрических цилиндров довольно произвольного поперечного сечения. Применимость полученных соотношений проанализирована на примерах рассеяния на эллиптическом цилиндре, на цилиндре, поперечное сечение которого имеет форму суперэллипса, многоугольника и многолистника. Как показывают приведенные результаты, полученные приближенные соотношения обладают достаточной точностью в широком диапазоне параметров задачи.
Ключевые слова: рассеяние света на малых частицах, приближение Релея, метод диаграммных уравнений, рассеяние электромагнитных волн, численные методы теории дифракции.
Финансовая поддержка Номер гранта
Российский фонд фундаментальных исследований 19-02-00654 а
Работа выполнена при частичной поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (проект № 19-02-00654 а).
Поступила в редакцию: 20.12.2019
Исправленный вариант: 17.01.2020
Принята в печать: 20.01.2020
Англоязычная версия:
Optics and Spectroscopy, 2020, Volume 128, Issue 5, Pages 624–629
DOI: https://doi.org/10.1134/S0030400X20050069
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Д. Б. Демин, А. И. Клеев, А. Г. Кюркчан, “Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений”, Оптика и спектроскопия, 128:5 (2020), 631–637; Optics and Spectroscopy, 128:5 (2020), 624–629
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DemKleKyu20}
\by Д.~Б.~Демин, А.~И.~Клеев, А.~Г.~Кюркчан
\paper Анализ рассеяния на тонком диэлектрическом цилиндре при помощи метода диаграммных уравнений
\jour Оптика и спектроскопия
\yr 2020
\vol 128
\issue 5
\pages 631--637
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/os419}
\crossref{https://doi.org/10.21883/OS.2020.05.49322.343-19}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=43800647}
\transl
\jour Optics and Spectroscopy
\yr 2020
\vol 128
\issue 5
\pages 624--629
\crossref{https://doi.org/10.1134/S0030400X20050069}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/os419
  • https://www.mathnet.ru/rus/os/v128/i5/p631
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Оптика и спектроскопия Оптика и спектроскопия
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025