|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Физическая оптика
Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках
А. Б. Сотскийa, С. С. Михеевa, Н. И. Стаськовa, Л. И. Сотскаяb a Могилевский государственный университет им. А. А. Кулешова
b Белорусско-Российский университет
Аннотация:
Получены интегральные выражения для спектров отражательной и пропускательной способностей структуры в виде двух тонких слоев, нанесенных на противоположные грани плоскопараллельной подложки в условиях наклонного освещения структуры частично когерентным светом. В результате асимптотического анализа интегралов установлены приближенные аналитические формулы для расчета названных спектров, удобные для использования при решении обратных задач спектрофотометрии. Исследован допированный алюминием слой оксида цинка, нанесенный на стеклянную подложку. Спектры показателей преломления и поглощения слоя и подложки, а также толщина слоя восстановлены путем обработки спектров отражательной и пропускательной способностей структуры, измеренных для волн $s$- и $p$-поляризации при двух углах падения света на структуру. Найденные параметры структуры использованы в вычислительных экспериментах для оценок границ применимости сформулированных приближений.
Ключевые слова:
спектрофотометрия, частичная когерентность, обратная оптическая задача, отражательная и пропускательная способности.
Поступила в редакцию: 05.03.2020 Исправленный вариант: 05.03.2020 Принята в печать: 28.03.2020
Образец цитирования:
А. Б. Сотский, С. С. Михеев, Н. И. Стаськов, Л. И. Сотская, “Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках”, Оптика и спектроскопия, 128:8 (2020), 1133–1143; Optics and Spectroscopy, 128:8 (2020), 1155–1166
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/os334 https://www.mathnet.ru/rus/os/v128/i8/p1133
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 34 | PDF полного текста: | 6 |
|