Наносистемы: физика, химия, математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Наносистемы: физика, химия, математика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Наносистемы: физика, химия, математика, 2016, том 7, выпуск 4, страницы 687–690
DOI: https://doi.org/10.17586/2220-8054-2016-7-4-687-690
(Mi nano266)
 

Optical and structural studies of vanadium pentoxide thin films

S. Ganeshana, P. Ramasundarib, A. Elangovanc, R. Vijayalakshmid

a Department of Physics, Vivekananda College, Madurai
b P. G. and Research Department of Physics, S.V. N. College, Madurai
c P. G. and Research Department of Chemistry, Thiagarajar College, Madurai
d P. G. and Research Department of Physics, Thiagarajar College, Madurai
Аннотация: Recently, transition metal oxides like Vanadium pentoxide have become a subject of intensive studies. The particular physical and chemical properties of these materials allow a wide range of practical applications such as electrochromic devices, cathode electrodes for lithium batteries, humidity sensors. The V$_2$O$_5$ film was prepared by an electrodeposition technique. The structural and optical properties were studied by X-Ray Diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), UV-Visible and Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR). XRD spectra recorded has been observed and compared with the JCPDS values. SEM images showed very smooth surface morphology and the elemental compositions of the film were confirmed by EDAX. The transmittance of the V$_2$O$_5$ films showed 75 % at 425 nm for the asdeposited substrate. The energy band gap of the films was found to be 2.45 eV and the band assignments of the V$_2$O$_5$ film are comparable with the reported values.
Ключевые слова: Electrodeposition, optical properties, X-ray diffraction.
Поступила в редакцию: 05.02.2016
Исправленный вариант: 11.05.2016
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
PACS: 81.15 Pq, 74.25 Gz, 61.05 Cp
Язык публикации: английский
Образец цитирования: S. Ganeshan, P. Ramasundari, A. Elangovan, R. Vijayalakshmi, “Optical and structural studies of vanadium pentoxide thin films”, Наносистемы: физика, химия, математика, 7:4 (2016), 687–690
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GanRamEla16}
\by S.~Ganeshan, P.~Ramasundari, A.~Elangovan, R.~Vijayalakshmi
\paper Optical and structural studies of vanadium pentoxide thin films
\jour Наносистемы: физика, химия, математика
\yr 2016
\vol 7
\issue 4
\pages 687--690
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/nano266}
\crossref{https://doi.org/10.17586/2220-8054-2016-7-4-687-690}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000387463500023}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/nano266
  • https://www.mathnet.ru/rus/nano/v7/i4/p687
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Наносистемы: физика, химия, математика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:30
    PDF полного текста:50
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024