Наносистемы: физика, химия, математика
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Наносистемы: физика, химия, математика:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Наносистемы: физика, химия, математика, 2021, том 12, выпуск 3, страницы 311–316
DOI: https://doi.org/10.17586/2220-8054-2021-12-3-311-316
(Mi nano1027)
 

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

CHEMISTRY AND MATERIAL SCIENCE

Ultraviolet and visible reflective TiO$_{2}$/SiO$_{2}$ thin films on silicon using sol-gel spin coater

S. Saravanan, R. S. Dubey

Advanced Research Laboratory for Nanomaterials & Devices, Department of Nanotechnology, Swarnandhra College of Engineering & Technology, Narsapur-534 280, West Godavari (A.P.), India
Аннотация: TiO$_{2}$SiO$_{2}$ alternative thin films (stacks) were deposited on silicon substrates using sol-gel spin-coating techniques. The prepared samples had their corresponding optical properties analyzed by UV-Visible spectrophotometry (UV-Vis), X-ray diffractometry (XRD), a surface profilometer, and Raman spectroscopy. The optical and crystallization properties of thin films were varied and compared by changing the number of stacks. UV-Vis spectrum showed high reflectance and shifting towards the infrared region with effect of increased TiO$_{2}$/SiO$_{2}$ stacks. XRD spectra confirmed the existence of anatase TiO$_{2}$ and SiO$_{2}$ diffraction peaks. The multilayer film thickness was calculated at 109 and 151 nm at two and four stacks by a surface profilometer. The Raman spectra confirmed the Si-O-Si and TiO$_{2}$ stretching modes at 2600, 980, and 519 cm$^{-1}$. This investigation reveals the promising and effective UV-Visible reflective property of alternative TiO$_{2}$/SiO$_{2}$ thin films on a silicon substrate.
Ключевые слова: Sol-gel, reflectance, multilayer, anatase, thickness.
Поступила в редакцию: 12.11.2020
Исправленный вариант: 20.03.2021
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Язык публикации: английский
Образец цитирования: S. Saravanan, R. S. Dubey, “Ultraviolet and visible reflective TiO$_{2}$/SiO$_{2}$ thin films on silicon using sol-gel spin coater”, Наносистемы: физика, химия, математика, 12:3 (2021), 311–316
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{SarDub21}
\by S.~Saravanan, R.~S.~Dubey
\paper Ultraviolet and visible reflective TiO$_{2}$/SiO$_{2}$ thin films on silicon using sol-gel spin coater
\jour Наносистемы: физика, химия, математика
\yr 2021
\vol 12
\issue 3
\pages 311--316
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/nano1027}
\crossref{https://doi.org/10.17586/2220-8054-2021-12-3-311-316}
\isi{https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcApp=Publons&SrcAuth=Publons_CEL&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=000668639600007}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=46222714}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/nano1027
  • https://www.mathnet.ru/rus/nano/v12/i3/p311
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Наносистемы: физика, химия, математика
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:118
    PDF полного текста:119
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024