Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки
в рамках реализации программы Московского центра фундаментальной
и прикладной математики по соглашению № 075-15-2022-284.
Образец цитирования:
М. К. Альбек, Д. С. Романов, “О диагностических тестах относительно локальных зеркальных отражений на входах схем”, Матем. заметки, 115:5 (2024), 791–796; Math. Notes, 115:5 (2024), 837–841