|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Короткие тесты замыкания для контактных схем
К. А. Попков Институт прикладной математики им. М.В. Келдыша Российской академии наук, г. Москва
Аннотация:
Рассматривается задача реализации булевых функций
двухполюсными контактными схемами, неизбыточными и
допускающими короткие проверяющие или диагностические тесты
относительно замыканий не более $k$ контактов
при заданном натуральном $k$. Доказаны следующие утверждения:
для почти любой булевой функции от $n$ переменных минимальная длина
проверяющего (диагностического) теста
равна $2$ (соответственно не превосходит $2k+2$).
Библиография: 15 названий.
Ключевые слова:
контактная схема, замыкание контакта, проверяющий тест,
диагностический тест.
Поступило: 10.03.2019 Исправленный вариант: 23.07.2019
Образец цитирования:
К. А. Попков, “Короткие тесты замыкания для контактных схем”, Матем. заметки, 107:4 (2020), 591–603; Math. Notes, 107:4 (2020), 653–662
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/mzm12374https://doi.org/10.4213/mzm12374 https://www.mathnet.ru/rus/mzm/v107/i4/p591
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 271 | PDF полного текста: | 53 | Список литературы: | 32 | Первая страница: | 3 |
|