Сканирующий атомно-силовой микроскоп

Предложена методика математического моделирования атомно-силового микроскопа с учетом основных особенностей формирования сигнала в системе детектирования и блоке электроники прибора. С помощью численного эксперимента, выполненного по данной методике, проанализирована работа прибора. В расчетах сил взаимодействия использовался модельный потенциал, параметры которого оценивались в приближении электронного газа. Предложенная методика моделирования позволяет более корректно (с учетом характеристик конкретного прибора) интерпретировать экспериментальные результаты.