Описание поверхности компактных нанообъектов

Предложен численный метод идентификации и анализа поверхности компактных атомных нанообъектов. Дан обзор существующих в литературе подходов к решению этой задачи. Проведен анализ алгоритмов, разработано необходимое программное обеспечение и на примере модельных кластеров проведено его тестирование. Предлагаемый метод обеспечивает одновременное однозначное определение атомов поверхности и ее мозаичное представление, которое затем может быть использовано для вычисления различных интегральных характеристик рассматриваемого объекта. Установлены некоторые общие качественные особенности оценок площади поверхности и объема малых атомных систем.