|
Математическое моделирование, 2011, том 23, номер 3, страницы 22–26
(Mi mm3083)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Статистическое моделирование спектров упругоотраженных электронов
А. А. Батраков, А. В. Лубенченко Московский энергетический институт (технический университет)
Аннотация:
Наиболее перспективным методом исследования поверхности конструкционных материалов является метод спектроскопии отраженных электронов (СОЭ). Метод СОЭ может быть реализован на стандартном аналитическом оборудовании (например, Оже-спектрометр), которое отличается малыми габаритами. Преимущество данного метода анализа в том, что он не оказывает разрушающего действия. Энергетические спектры электронов, отраженных в единичный элемент телесного угла, содержат обширную информацию о послойном и компонентном составе поверхности исследуемой мишени. Трудности теоретической интерпретации спектров затрудняют применение метода СОЭ. В работе используется метод имитационного моделирования при интерпретации данных СОЭ.
Ключевые слова:
моделирование Монте-Карло, детектирование водорода, упругое рассеяние, спектроскопия упругоотраженных электронов.
Поступила в редакцию: 30.11.2009
Образец цитирования:
А. А. Батраков, А. В. Лубенченко, “Статистическое моделирование спектров упругоотраженных электронов”, Матем. моделирование, 23:3 (2011), 22–26
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/mm3083 https://www.mathnet.ru/rus/mm/v23/i3/p22
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 303 | PDF полного текста: | 113 | Список литературы: | 54 | Первая страница: | 2 |
|