Самосогласованная компенсированная микрополевая модель неидеальности плазмы

Предложен усовершенствованный вариант микрополевой модели неидеальности плазмы — компенсированная модель. В ней устранен двойной учет влияния микрополя на обрезание статистических сумм, присутствовавший в предшествующих моделях. Метод обрезания статистических сумм атомов или ионов с использованием микрополевой модели сопоставлен с экспериментами и расчетами по широко известным моделям дебаевского типа и другим известным моделям. Показано, что только микрополевая модель правильно описывает эксперименты. Сделан расчет ионизации Li и Hg. При этом качественно описан эффект металлизации плазмы — скачкообразного возрастания ионизации от нулевой до однократной при низких температурах и плотностях около нормальной. Расчет ионизации паров Hg качественно согласуется с известными экспериментами по измерению электропроводности таких паров.