Моделирование и анализ информационных систем
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Импакт-фактор

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Модел. и анализ информ. систем:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Моделирование и анализ информационных систем, 2008, том 15, номер 1, страницы 34–36 (Mi mais88)  

Интегральные близкие к эйлеровой характеристики полутоновых цифровых изображений

П. Г. Парфенов, И. А. Каплий

Ярославский государственный университет
Список литературы:
Аннотация: С помощью интегрального выражения вводится аналог эйлеровой характеристики для полутоновых изображений. Получена теорема, позволяющая вычислять эту характеристику суммированием некоторой функции, определенной на полутоновых фрагментах размера $2\times 2$. Приведенный пример и компьютерная модель показывают, что вышеуказанная характеристика является естественным продолжением эйлеровой характеристики на множестве полутоновых изображений.
Поступила в редакцию: 02.03.2008
УДК: 519.68:[681.5137+612.8.001.57+007.51/52]
Образец цитирования: П. Г. Парфенов, И. А. Каплий, “Интегральные близкие к эйлеровой характеристики полутоновых цифровых изображений”, Модел. и анализ информ. систем, 15:1 (2008), 34–36
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ParKap08}
\by П.~Г.~Парфенов, И.~А.~Каплий
\paper Интегральные близкие к эйлеровой характеристики полутоновых цифровых изображений
\jour Модел. и анализ информ. систем
\yr 2008
\vol 15
\issue 1
\pages 34--36
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/mais88}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/mais88
  • https://www.mathnet.ru/rus/mais/v15/i1/p34
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Моделирование и анализ информационных систем
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025