|
XXVIII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Н. Новгород, 11-15 марта 2024 г.
Физика низкоразмерных структур
Изготовление и исследование структур нормальный металл-изолятор-сверхпроводник Al/AlO$_x$/Nb
М. А. Маркинаab, А. М. Чекушкинa, М. А. Тарасовa, М. Ю. Фоминскийa, Т. Д. Пацаевc, А. Л. Васильевc a Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, 125009 Москва, Россия
b Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики", 109028 Москва, Россия
c Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, 59119333 Москва, Россия
Аннотация:
Представлены разработка, изготовление и исследование структур на основе туннельных переходов нормальный металл-изолятор-сверхпроводник. Произведен анализ морфологии трехслойной структуры Al/AlO$_x$/Nb методами просвечивающей электронной микроскопии, просвечивающей растровой электронной микроскопии и электронной дифракции. Для формирования туннельных переходов использована технология Selective Niobium Etching and Anodization Process. Достигнут параметр качества изготовленных структур – отношение $R_d/R_n$($V$ = 0)= 53 при температуре 2.8 K, теоретически ожидаемое значение составляет 54. Разработан дизайн структур из последовательно-параллельного электрического соединения пар туннельных контактов. Изготовлены интегральные структуры термометров, $dR/dT$ которых в 2.5, 5 и 12.5 раз больше, чем одиночного туннельного перехода.
Ключевые слова:
туннельный переход, нормальный металл-изолятор-сверхпроводник (НИС), цепочки НИС контактов, SNEAP (от англ. “Selective Niobium Etching and Anodization Process”), плазмохимическое травление, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ).
Образец цитирования:
М. А. Маркина, А. М. Чекушкин, М. А. Тарасов, М. Ю. Фоминский, Т. Д. Пацаев, А. Л. Васильев, “Изготовление и исследование структур нормальный металл-изолятор-сверхпроводник Al/AlO$_x$/Nb”, ЖТФ, 94:7 (2024), 1079–1086
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6809 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v94/i7/p1079
|
|