Структура и ориентировки волокон Al$_{2}$O$_{3}$, используемых для напыления YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{y}$

Различными методами исследованы внутренняя структура и ориентация тонких (150–300 $\mu$m) гибких волокон Al$_{2}$O$_{3}$, которые используются в качестве подложек для проводов третьего поколения на основе высокотемпературных сверхпроводников. Показано, что использование сканирующей электронной микроскопии, дифракции обратно-отраженных электронов (EBSD), просвечивающей электронной микроскопии, а также рентгенографии позволяет адекватно установить положение плоскости (1$\bar1$02), необходимой для роста качественной пленки YBa$_{2}$Cu$_{3}$O$_{y}$.