|
Журнал технической физики, 2016, том 86, выпуск 5, страницы 107–111
(Mi jtf6559)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 16 научных статьях (всего в 16 статьях)
Физика низкоразмерных структур
Изменение иммитанса при электроформовке и резистивном переключении в мемристивных структурах “металл–диэлектрик–металл” на основе SiO$_{x}$
С. В. Тихов, О. Н. Горшков, И. Н. Антонов, А. П. Касаткин, Д. С. Королев, А. И. Белов, А. Н. Михайлов, Д. И. Тетельбаум Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского
Аннотация:
Для мемристивных структур “металл–диэлектрик–металл” на основе SiO$_{x}$ установлены изменения иммитанса при электроформовке и резистивном переключении, которые подтверждают образование проводящих каналов (филаментов) в диэлектрике при формовке и их прерывание при переходе структуры в состояние с высоким сопротивлением. Обнаружено переключение дифференциальной емкости и проводимости, синхронное с переключением тока (сопротивления), которое может существенно расширить функциональные применения мемристивных устройств данного типа.
Поступила в редакцию: 17.03.2015
Образец цитирования:
С. В. Тихов, О. Н. Горшков, И. Н. Антонов, А. П. Касаткин, Д. С. Королев, А. И. Белов, А. Н. Михайлов, Д. И. Тетельбаум, “Изменение иммитанса при электроформовке и резистивном переключении в мемристивных структурах “металл–диэлектрик–металл” на основе SiO$_{x}$”, ЖТФ, 86:5 (2016), 107–111; Tech. Phys., 61:5 (2016), 745–749
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6559 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v86/i5/p107
|
|