|
Журнал технической физики, 2016, том 86, выпуск 7, страницы 124–129
(Mi jtf6510)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Физическая электроника
Атомно-силовая микроскопия субмикронных пленок электроактивного полимера
Д. Д. Карамовab, В. М. Корниловa, А. Н. Лачиновab, В. А. Крайкинc, И. А. Ионоваc a Башкирский государственный педагогический университет им. М. Акмуллы, г. Уфа
b Уфимский научный центр РАН
c Уфимский институт химии Уфимского федерального исследовательского центра РАН
Аннотация:
Методами атомно-силовой микроскопии исследована надмолекулярная структура субмикронных пленок электроактивного термостойкого полимера полидифениленфталида (ПДФ). Установлено, что пленки ПДФ, полученные методом центрифугирования, являются сплошными и однородными вплоть до толщин в несколько нанометров, что соответствует двум-трем мономолекулярным слоям. Обнаружено, что объем пленки структурирован при толщинах выше 100 nm. Исследования реологических свойств растворов, из которых отливались пленки, позволили обнаружить точку кроссовера, разделяющую области сильно разбавленных и полуразбавленных растворов. В пленках, отлитых из растворов пограничной концентрации, удалось пронаблюдать переход от глобулярной структуры к структуре ассоциатов. Обсуждена модель формирования полимерной пленки, обусловленная наличием ассоциатов в исходном растворе.
Поступила в редакцию: 02.07.2015
Образец цитирования:
Д. Д. Карамов, В. М. Корнилов, А. Н. Лачинов, В. А. Крайкин, И. А. Ионова, “Атомно-силовая микроскопия субмикронных пленок электроактивного полимера”, ЖТФ, 86:7 (2016), 124–129; Tech. Phys., 61:7 (2016), 1085–1090
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf6510 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v86/i7/p124
|
|