Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2017, том 87, выпуск 2, страницы 277–281
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2017.02.44138.1624 (Mi jtf6322) 		 
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Электрофизика, электронные и ионные пучки, физика ускорителей

Безэталонный анализ твердых веществ масс-спектрометром с индуктивно связанной плазмой

Т. К. Нурубейли, З. К. Нурубейли, К. З. Нуриев, К. Б. Гурбанов

Институт физики НАН Азербайджана, Баку, Азербайджан
PDF полного текста (113 kB) Список цитирования (2)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2017.02.44138.1624
Аннотация: Рассмотрена возможность безэталонного масс-спектрометрического анализа элементного состава твердых тел. Теоретически и экспериментально исследовано влияние каждого этапа разлета лазерной плазмы на формирование коэффициента относительной чувствительности элементов пробы. Показано, что основные вклады в формирование коэффициента относительной чувствительности внесены этапами ионообразования и детектирования. Предложено разделить процессы диссоциации и ионизации по времени и (или) по пространству. Для компенсации энергетического разброса ионов на выходе из анализатора предложена схема для выравнивания энергий ионов перед их детектированием.
Поступила в редакцию: 20.10.2015
Исправленный вариант: 08.06.2016
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2017, Volume 62, Issue 2, Pages 305–309
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784217020220
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Т. К. Нурубейли, З. К. Нурубейли, К. З. Нуриев, К. Б. Гурбанов, “Безэталонный анализ твердых веществ масс-спектрометром с индуктивно связанной плазмой”, ЖТФ, 87:2 (2017), 277–281; Tech. Phys., 62:2 (2017), 305–309
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{NurNurNur17}
\by Т.~К.~Нурубейли, З.~К.~Нурубейли, К.~З.~Нуриев, К.~Б.~Гурбанов
\paper Безэталонный анализ твердых веществ масс-спектрометром с индуктивно связанной плазмой
\jour ЖТФ
\yr 2017
\vol 87
\issue 2
\pages 277--281
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf6322}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2017.02.44138.1624}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=28964678}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2017
\vol 62
\issue 2
\pages 305--309
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784217020220}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf6322
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v87/i2/p277
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024