Разброс в измерениях времени жизни отрицательных ионов как следствие их адсорбции на стенках камеры ионизации

Измерено время вытягивания отрицательных ионов из камеры ионизации статического масс-спектрометра как величина, значительно превышающая время их свободного выхода из камеры. Установлено, что аномально большое время вытягивания ионов обусловлено их адсорбцией на стенках камеры ионизации, в результате чего их перемещение в трубу анализатора задерживается. Показано, что отрицательные ионы, образующиеся первоначально как временноживущие относительно автоотщепления добавочного электрона, в результате адсорбции стабилизуются до вечноживущих, и последующий вклад вечноживущих ионов в полный ионный поток, достигающий систему регистрации, искажает результаты измерений времени жизни ионов. Показано, что часть адсорбированных ионов гибнет за счет нейтрализации в результате туннелирования добавочного электрона в поверхность. Вероятность туннелирования возрастает с ростом температуры, и в итоге температурная зависимости времени жизни ионов также искажается.