Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2018, том 88, выпуск 1, страницы 75–79
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.01.45485.2314 (Mi jtf6021) 		 
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Физика низкоразмерных структур

Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO$_{2}$/Si(001)

В. В. Балашевab, В. В. Коробцовab

a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
b Школа естественных наук, Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток
PDF полного текста (2864 kB) Список цитирования (3)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.01.45485.2314
Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов (ДБЭ) исследована структура поликристаллических пленок Fe, выращенных на окисленной поверхности Si(001) при комнатной температуре. Установлено, что ориентация зерен в выращенных пленках зависит от количества осажденного железа. Для пленок Fe толщиной менее 5 nm была характерна случайная ориентация зерен Fe. Пленки Fe толщиной более 5 nm имели (111) текстуру, ось которой совпадала с нормалью к поверхности. Угловое отклонение направления [111] решетки Fe относительно нормали к поверхности составляло $\pm$ 25$^\circ$. Обнаружено, что увеличение толщины пленки железа приводит к появлению (110) текстуры.
Финансовая поддержка Номер гранта
Дальневосточное отделение Российской академии наук 0262-2015-0130
Работа частично поддержана программой фундаментальных исследований ДВО РАН “Дальний восток” 2015–2017 гг. № 0262-2015-0130.
Поступила в редакцию: 26.04.2017
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2018, Volume 63, Issue 1, Pages 73–77
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378421801005X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Балашев, В. В. Коробцов, “Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO$_{2}$/Si(001)”, ЖТФ, 88:1 (2018), 75–79; Tech. Phys., 63:1 (2018), 73–77
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BalKor18}
\by В.~В.~Балашев, В.~В.~Коробцов
\paper Исследование структуры ультратонких поликристаллических пленок Fe, выращенных на поверхности SiO$_{2}$/Si(001)
\jour ЖТФ
\yr 2018
\vol 88
\issue 1
\pages 75--79
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf6021}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2018.01.45485.2314}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=32737521}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2018
\vol 63
\issue 1
\pages 73--77
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378421801005X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf6021
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v88/i1/p75
    • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025