Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Журнал технической физики, 2018, том 88, выпуск 6, страницы 803–807
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.06.46008.2159 (Mi jtf5884) 		 
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Теоретическая и математическая физика

Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе

А. А. Потаповabc, С.Ш. Рехвиашвилиd

a Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Москва
b JiNan University (JNU), Guangzhou, China
c Cooperative Chinese-Russian laboratory of informational technologies and signals fractal processing of JNU-IREE RAS, JiNan University (JNU), Guangzhou, China
d Институт прикладной математики и автоматизации КБНЦ РАН, Нальчик, Россия
PDF полного текста (378 kB) Список цитирования (2)
DOI: https://doi.org/10.21883/JTF.2018.06.46008.2159
Аннотация: Разработана методика моделирования изображений в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) с одновременным применением вейвлет-преобразования и медианной фильтрации. В работе использовалось вейвлет-преобразование с ядром Добеши 4-го порядка. Данное преобразование позволяет выделять на СЗМ-изображениях детали различных масштабов, что дает возможность исследовать фрактальные свойства поверхностей. С помощью моделирования показано, что сверхвысокое разрешение в СЗМ может соответствовать атомарному, если размеры контактной области в системе “зонд-образец” намного превышает атомные размеры, а также имеется случайный разброс в расположении атомов решетки. Дано объяснение явлению инверсии контраста на СЗМ-изображениях в режиме многократного сканирования.
Поступила в редакцию: 09.01.2017
Исправленный вариант: 07.12.2017
Англоязычная версия:
Technical Physics, 2018, Volume 63, Issue 6, Pages 777–781
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063784218060166
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Потапов, С.Ш. Рехвиашвили, “Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе”, ЖТФ, 88:6 (2018), 803–807; Tech. Phys., 63:6 (2018), 777–781
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{PotRek18}
\by А.~А.~Потапов, С.Ш.~Рехвиашвили
\paper Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе
\jour ЖТФ
\yr 2018
\vol 88
\issue 6
\pages 803--807
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/jtf5884}
\crossref{https://doi.org/10.21883/JTF.2018.06.46008.2159}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=34982844}
\transl
\jour Tech. Phys.
\yr 2018
\vol 63
\issue 6
\pages 777--781
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063784218060166}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf5884
  • https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v88/i6/p803
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Журнал технической физики Журнал технической физики
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:41
    PDF полного текста:8
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2024